超声扫描显微镜SAT工业领域应用

    超声扫描显微镜SAT利用超声成像技术，是一台能够以高精度图像展示材料内部缺陷的无损检测设备。

    超声成像技术简单来说，是由于高频超声波具有良好的方向性，对于不同介质传播会形成不同的反射波，尤其是空洞或分层等缺陷会有与众不同的波形。且超声频率越高，其分辨能力越强，检测越精准。

超声波检测还可以检测复合片厚度

    超声扫描显微镜可应用于半导体、芯片封装检测、复合新材料、金刚石复合片、航空航天材料、低压电器、新能源锂电池、碳纤维材料等各类领域内部缺陷检测。

Hiwave研发的超声扫描显微镜C扫检测复合材料行业的金刚石复合片内部缺陷

    超声扫描显微镜根据切换不同扫描模式可反映出材料内部的不同界面图像。常用的是超声c扫描模式，可反映材料内部的横截面图像，可按照对焦面的不同，进行逐层检测不同生成不同横截面的超声图像。扫描模式中看，超声B扫描是反映出材料内部的纵截面图像；超声T扫描是反映材料内部的透射图像。

Hiwave超声C扫描图像

Hiwave超声波T扫描图像

Hiwave超声相位图

    超声相位图也就是超声C扫图像后按照超声反射强弱进行自定义着色的图像，用于辅助检测判定缺陷面积尺寸立大小。

    对于不同的领域的材料可以结合超声扫描显微镜的不同扫描模式进行内部缺陷综合判定。在对材料内部缺陷的定性定量判定以及上面超声扫描显微镜有着较为明显的优势，也可以间接反映封装工艺质量等。

Hiwave超声扫描显微镜检测半导体封装缺陷

    在国内，上海和伍智造营Hiwave联合上海交通大学，浙江大学，研发属于“中国人自己”的超声扫描显微镜设备。在超声波检测内部缺陷精度和成像效果方面一直是佼佼者。

    其设备进入了国内多所高校，中国物理研究院，中国科学院自动化研究所等实验室。也为华为、小米锂电池、中国电子、施耐德电器等龙头企业提供超声检测技术及设备，受到了众多企业的广泛的认可。