用超声扫描显微镜做无损检测的优势

       超声扫描显微镜：学名叫做水浸超声扫描显微镜，因为超声波传输依赖介质，常常需要将工件浸入水中，或者其他液体介质中。固称作水浸超声扫描显微镜。

Hiwave研发的水浸超声扫描显微镜S300

       超声扫描显微镜检测原理：

       水浸超声扫描显微镜主要利用超声扫描成像技术对材料内部缺陷检测的。

       如图所示：超声探头会发射超声波束，经过液体耦合介质，抵达工件上表面，会形成上表面反射波。超声波束穿过工工件，遇到材料内部缺陷处；如裂纹、缝隙、空洞、气泡、夹渣、虚焊、分层等缺陷，会形成不同的反射波与折射波。通过收集不同的波。就可以得到材料内部的超声强度图像了。根据超声强度图可以准确判断出缺陷的位置、面积、占比等等数据。

Hiwave超声扫描显微镜检测金刚石复合片内部缺陷图像

       超声扫描显微镜检测特点及优势

       以国产Hiwave上海和伍智造营研发的水浸超声扫描显微镜设备为例：

       1、超声波检测结果精准，天生具有对缺陷敏感等特性。

       2、无损检测，不需要破坏工件，即可检测材料内部缺陷。

       3、对人体无危害、对环境无污染、健康环保。检测成本低，无耗材。

       4、超声检测范围广：可检测多种材料、分层、复杂结构的工件，如半导体、芯片，金属零部件、锂电池、复合材料、碳纤维材料等等。且对超声材料检测条件要求低。

       5、超声扫描成像直观，缺陷清晰可见，简单易操作，检测图像反应材料内部信息数据多。

       6、可做分层检测(1～99)层，检测精度高，图像分辨率高。可达微米级别。

       7、检测效率快，边扫描边成像。可适配生产线。

       8、可对缺陷定性定量分析，支持MES系统接入，如对同一生产批次零部件的缺陷做分析，利于调整优化生产工艺。

Hiwave超声扫描显微镜检测半导体内部缺陷

Hiwave水浸超声扫描显微镜上海研发基地